专业内存条检测工具(Ram Stress Test)

　　专业内存条检测工具Ram Stress Test是一个专业的电脑内存条检测工具，Ram Stress Test一般是在维修时用，它能够检测出内存条是否存在颗粒损坏、PCB板有没有短路或虚焊等情况。

　　Ram Stress Test 能检测SD内存，也能检测DDR内存，是专业的内存维修工具，完全可以取代昂贵的内存检测卡。

基本简介

　　Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该 公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆 体问题，所以是非常好用的一个测试工具！

使用方法

　　下载后解压后，用UltraISO制作到U盘启动，不依赖任何操作系统，只要BIOS能识别的内存它都能检测；具体操作请参阅包内的操作说明，包内软件是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件

　　1、点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它（可解决部分点不亮问题）。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根

　　2、发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过

　　3、程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache

　　4、软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘（如需要软盘版的请留言说明），使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测

　　5、可以测试SD及DDR内存

　　6、闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

　　依次代表内存条的8颗颗粒

　　从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒